Частотні та температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧ

Юрій Вікторович Діденко

Анотація


У статті проаналізована природа діелектричних втрат у кремнії та арсеніді галію. Наведено експериментальні частотні й температурні залежності діелектричних втрат у напівпровідниках на НВЧ. Також показані результати математичного моделювання.

Бібл. 3, рис. 3.


Ключові слова


напівпровідникові матеріали; тангенс кута втрат; діелектрична проникність; частотна залежність втрат; провідність; квазідебаєвський механізм

Повний текст:

PDF (Русский)

Посилання


Poplavko Y. M., Molchanov V. I., Kazmirenko V. A. (2011), “Microwave Dielectric Spectroskopy”. Kiev, NTUU «KPI». P. 304. (Ukr)

Poplavko Y. M., Yakimenko Y. I. (2013), “Piezoelectrics”. Kiev, NTUU «KPI». P. 328. (Ukr)

Didenko Y. V., Poplavko Y. M., Tatarchuk D. D. (2014), “Temperature Dependences of Losses in High Frequency Dielectrics”. Electronics and Communications. Vol. 19, no. 4(81), pp. 28–35.




DOI: http://dx.doi.org/10.20535/2312-1807.2015.20.3.38285

Посилання

  • Поки немає зовнішніх посилань.


Copyright (c) 2016 Електроніка та зв'язок

Creative Commons License
Ця робота ліцензована Creative Commons Attribution 4.0 International License.