БОНДАРЕНКО, М.; БОНДАРЕНКО, Ю. .; ШЕЛЕСТОВСЬКА, С. Дослідження впливу стану поверхні кремнієвих зондів для атомно-силової мікроскопії на точність та якість одержуваних топограм. Електроніка та Зв’язок, [S. l.], v. 16, n. 2, p. 14–17, 2011. DOI: 10.20535/2312-1807.2011.16.2.268087. Disponível em: http://elc.kpi.ua/old/article/view/268087. Acesso em: 5 трав. 2024.