[1]
М. Бондаренко, Ю. . Бондаренко, і С. Шелестовська, «Дослідження впливу стану поверхні кремнієвих зондів для атомно-силової мікроскопії на точність та якість одержуваних топограм», Електр.Зв’яз., т. 16, вип. 2, с. 14–17, Бер 2011.