[1]
Кукурудзяк, М.С. 2022. Технологічні причини пробою p-n-переходу кремнієвих p-i-n фотодіодів. Мікросистеми, Електроніка та Акустика. 27, 3 (Груд 2022), 268299–1. DOI:https://doi.org/10.20535/2523-4455.mea.268299.