Кукурудзяк, М. С. (2022). Технологічні причини пробою p-n-переходу кремнієвих p-i-n фотодіодів. Мікросистеми, Електроніка та Акустика, 27(3), 268299–1. https://doi.org/10.20535/2523-4455.mea.268299