Мікросистеми, Електроніка та Акустика: Анонси
https://elc.kpi.ua/
<p><strong>Науково-технічний журнал «Мікросистеми, Електроніка та Акустика» (ISSN 2523-4447, e-ISSN 2523-4455) з червня 2017 року є правонаступником заснованого у березні 1995 року журналу "Електроніка та Зв’язок" (ISSN 1811-4512, e-ISSN 2312-1807), який припинив своє існування. З 01 січня 2020 року журнал випускається виключно в електронній версії 3 рази на рік. Ознайомитися з усіма попередніми випусками Ви маєте можливість за посиланням <a href="http://elc.kpi.ua/old" target="_blank" rel="noopener">http://elc.kpi.ua/old</a></strong></p>uk-UAЗапрошення до публікації: Запит на нову статтю
https://elc.kpi.ua/announcement/view/1750
<p data-sourcepos="3:1-3:22"><strong>Шановний/а пане/і!</strong></p> <p data-sourcepos="5:1-5:187">Запрошуємо Вас опублікувати Вашу наукову роботу в журналі «Мікросистеми, Електроніка та Акустика», який видається Національним технічним університетом України «КПІ ім. Ігоря Сікорського».</p> <p data-sourcepos="7:1-7:267">Наш журнал є провідним науковим виданням в Україні, що охоплює широкий спектр тем у галузі електроніки та мікроелектроніки, акустики та пов’язаних технологій. Ми публікуємо оригінальні дослідження, оглядові статті та короткі повідомлення від провідних вчених та інженерів з усього світу.</p> <p data-sourcepos="9:1-9:230">Якщо Ваша робота відповідає тематиці журналу, просимо ознайомитися з детальними інструкціями для авторів за посиланням: <a href="https://elc.kpi.ua/about/submissions#authorGuidelines" target="_blank" rel="noopener">https://elc.kpi.ua/about/submissions#authorGuidelines</a></p> <p data-sourcepos="11:1-11:40">Ми з нетерпінням чекаємо на Ваші роботи!</p> <p data-sourcepos="13:1-14:56"><strong>З повагою,</strong> Редакція журналу «Мікросистеми, Електроніка та Акустика»</p>Мікросистеми, Електроніка та Акустика2024-11-15Ранній доступ до статті: Моделювання тліючого розряду в коаксіальній системі електродів
https://elc.kpi.ua/announcement/view/1748
<p>Виконано моделювання тліючого розряду в циліндричній коаксіальній системі з діелектричними торцями електродів в гідродинамічному дрейфово-дифузному наближенні. Параметри моделі: діаметр зовнішнього катода 10 та 13 мм, діаметр анода 2 мм, напруга 2800 В, температура газу 300 К. pd ~ 1 Па∙м, що відповідає лівій частині області мінімуму кривої Пашена для запалювання розряду. Були враховані реакції іонізації атомів електронним ударом, генерації та гасіння метастабільних атомів, пружнього зіткнення електронів з атомами та пружнє зіткнення іонів, резонансне перезарядження іонів, іонізація Пенінга, а також вторинна іонно-електронна емісія катода. Були розраховані в рамках самоузгодженої задачі розподіл потенціалу і концентрації заряджених частинок в міжелектродному проміжку, густини іонних і електронних струмів, представлені вольт-амперні характеристики для двух мод розряду - плазмового та безплазмового. Визначено вплив <em>pd</em> на параметри та моду розряду. Отримані результати можуть бути використані в плазмових технологіях модифікації внутрішніх поверхонь металевих, порожнистих, протяжних деталей з малим поперечним розміром, тобто в умовах близьких до ускладненого виникненням розряду.</p>Мікросистеми, Електроніка та Акустика2024-11-12Ранній доступ до статті: Взаємодія срібних наночастинок з підкладкою в умовах плазмонного резонансу
https://elc.kpi.ua/announcement/view/1747
<p>Взаємодія між наночастинками металів і підкладками в умовах плазмонного резонансу відіграє вирішальну роль у різних оптичних застосуваннях. У цій роботі ми досліджуємо вплив матеріалу підкладки на оптичний відгук наночастинок срібла в умовах поверхневого плазмонного резонансу. Використовуючи теоретичне моделювання на основі квазістатичного дипольного наближення, ми дослідили, як діелектрична проникність підкладки впливає на спектри перерізу екстинкції наночастинок срібла в залежності від розміру наночастинок і відстані від поверхні підкладки. Проведені розрахунки показують значні зсуви піку екстинкції та збільшення перерізу екстинкції при розгляді різних матеріалів підкладок, зокрема целюлозу, оксид індію та олова і срібло. Було виявлено, що підкладки з більшою діелектричною проникністю спричиняють більший зсув піку екстинкції в бік довших довжин хвиль і призводять до збільшення значень перерізу екстинкції на робочій довжині хвилі. Більше того, було встановлено, що орієнтація зовнішнього електричного поля відносно поверхні підкладки впливає на величину цих зсувів. Результати дослідження показують, що хоча зміна розміру наночастинок має мінімальний вплив на положення піку екстинкції, збільшення розміру наночастинок значно збільшує максимальні значення перерізу екстинкції. Крім того, зміна відстані між наночастинками і поверхнею підкладки спричиняє зсуви в спектрах екстинкції, причому більші зсуви спостерігаються для підкладок з більшими значеннями діелектричної проникності. Ці результати дають цінну інформацію для проектування та оптимізації плазмонних структур для різних оптоелектронних застосувань. Розуміння взаємодії наночастинок з підкладкою та їх оптичні властивості допомагає прогнозувати оптичні відгуки і розробляти оптичні структури для покращення продуктивності їх використання. Загалом, це дослідження підкреслює важливість вибору матеріалу підкладки та взаємодії наночастинок з підкладкою в інженерних плазмонних системах для передових оптичних застосувань, прокладаючи шлях до розробки ефективних і оптимізованих оптоелектронних пристроїв і сенсорів.</p>Мікросистеми, Електроніка та Акустика2024-11-12Майбутній номер: Попередній доступ
https://elc.kpi.ua/announcement/view/1387
Мікросистеми, Електроніка та Акустика2022-05-07