[1]
Belogolovskii M.А. и Larkin, S.Y. 2013. Наноэлектронные устройства с памятью на основе эффекта электромиграции кислородных вакансий в сложных оксидах переходных металлов. Электроника и Связь. 18, 2 (май 2013), 9–15. DOI:https://doi.org/10.20535/2312-1807.2013.18.2.173993.