[1]
Бондаренко, М., Бондаренко, Ю. і Шелестовська, С. 2011. Дослідження впливу стану поверхні кремнієвих зондів для атомно-силової мікроскопії на точність та якість одержуваних топограм. Електроніка та Зв’язок. 16, 2 (Бер 2011), 14–17. DOI:https://doi.org/10.20535/2312-1807.2011.16.2.268087.