Принцип сопряжения локального волнового фронта в аберрометрии с трассировкой лучей
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
Аннотация
Проанализированы ошибки измерения, возникающие из-за использования оптической системы глаза как составной части аберрометра, которые в современных скоростных автоматических аберрометрах не учитываются. Статья представляет собой попытку восполнить этот пробел. Выполнено моделирование с помощью программного пакета ZEMAX для метода Хартмана-Шека и метода рейтрейсинга. Показано, что в первом случае ошибки представляют собой простой наклон волнового фронта, который легко исключается при обработке. Во втором случае ошибки имеют более сложные зависимости. Предложен принцип локального сопряжения волнового фронта для рейтрейсинговой аберрометрии, основанный на управлении наклоном входящего в глаз излучения.
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.
Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующими условиями:- Авторы сохраняют за собой права на авторство своей работы и предоставляют журналу право первой публикации этой работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим лицам свободно распространять опубликованную работу с обязательной ссылокой на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.
- Авторы сохраняют право заключать отдельные договора на неэксклюзивное распространение работы в том виде, в котором она была опубликована этим журналом (например, размещать работу в электронном архиве учреждения или публиковать в составе монографии), с условием сохраниения ссылки на оригинальную публикацию в этом журнале.
- Политика журнала разрешает и поощряет размещение авторами в сети Интернет (например в институтском хранилище или на персональном сайте) рукописи работы как до ее подачи в редакцию, так и во время ее редакционной обработки, так как это способствует продуктивной научной дискуссии и положительно сказывается на оперативности и динамике цитирования статьи (см. The Effect of Open Access).
Библиографические ссылки
S. Smirnov, “Smirnov Measurement of wave aberration of the eye”, Biophysics, no. 6, pp. 776–794, 1961.
R. H. Webb, C. M. Penney, and K. P. Thompson, “Measurement of ocular local wavefront distortion with a spatially resolved refractometer”, Applied Optics, vol. 31, no. 19, p. 3678, Jul. 1992. DOI:10.1364/AO.31.003678
J. Liang, B. Grimm, S. Goelz, and J. F. Bille, “Objective measurement of wave aberrations of the human eye with the use of a Hartmann–Shack wave-front sensor”, Journal of the Optical Society of America A, vol. 11, no. 7, p. 1949, Jul. 1994. DOI:10.1364/JOSAA.11.001949
V. V. Molebny, “Retina ray-tracing technique for eye-refraction mapping”, in BiOS ’97, Part of Photonics West, San Jose, CA, 1997, pp. 175–183. DOI:10.1117/12.275118
R. Navarro and E. Moreno-Barriuso, “Laser ray-tracing method for optical testing”, Optics Letters, vol. 24, no. 14, p. 951, Jul. 1999. DOI:10.1364/OL.24.000951
P. Mierdel, M. Kaemmerer, M. Mrochen, H.-E. Krinke, and T. Seiler, “Ocular optical aberrometer for clinical use”, Journal of Biomedical Optics, vol. 6, no. 2, p. 200, Jan. 2001. DOI:10.1117/1.1344589
M. Tscherning, “Die monochromatischenAberrationen des menschlichen”, Zeitschrift für Psychologie und Physiologie derSinnesorgane, no. 6, pp. 456–471, 1894.
M. Fujieda, Ophthalmic measurement apparatus having plural pairs of photoreceiving elements. U.S. Patent 5,907,388. 25.05.1999
S. MacRae and M. Fujieda, “Slit Skiascopic-guided Ablation Using the Nidek Laser”, Journal of Refractive Surgery, vol. 16, no. 5, Sep. 2000. DOI:10.3928/1081-597X-20000901-18
J. Liang, D. R. Williams, and D. T. Miller, “Supernormal vision and high-resolution retinal imaging through adaptive optics”, Journal of the Optical Society of America A, vol. 14, no. 11, p. 2884, Nov. 1997. DOI:10.1364/JOSAA.14.002884
D. R. Williams, J. Liang. Method and apparatus for improving vision and the resolution of retinal images. U.S. Patent 5,777,719. 07.07.1997
B. M. Levine, A. Wirth, C. H. Knowles. Ophthalmic instrument with adaptive optic subsystem that measures aberrations (including higher order aberrations) of a human eye and that provides a view of compensation of such aberrations to the human eye. U.S. Patent 6,709,108. 23.03.2004
C.E. Campbell. Eye refractor with active mirror wavefront sensor. U.S. Patent 7,128,416. 31.10.2006
T. Nirmaier, G. Pudasaini, and J. Bille, “Very fast wave-front measurements at the human eye with a custom CMOS-based Hartmann�??Shack sensor”, Optics Express, vol. 11, no. 21, p. 2704, Oct. 2003.
J. Vaillant, “Wavefront sensor architectures fully embedded in an image sensor”, Applied Optics, vol. 46, no. 29, p. 7110, Oct. 2007. DOI:10.1364/AO.46.007110
F.-Y. Chen, W.-Y. Wang, Y.-H. Chang, T.-Y. Wu, Surface MEMS mirrors with oxide spacers, U.S. Patent 7,205,176. 17.04.2007
D. R. Williams, D. H. Brainard, M. J. McMahon, and R. Navarro, “Double-pass and interferometric measures of the optical quality of the eye”, Journal of the Optical Society of America A, vol. 11, no. 12, p. 3123, Dec. 1994. DOI:10.1364/JOSAA.11.003123
P. Artal, S. Marcos, D. R. Williams, and R. Navarro, “Odd aberrations and double-pass measurements of retinal image quality”, Journal of the Optical Society of America A, vol. 12, no. 2, p. 195, Feb. 1995. DOI:10.1364/JOSAA.12.000195
V. N. Kurashov, “Double-pass wave model in eye aberrations study”, in BiOS Europe ’97, San Remo, Italy, 1997, pp. 243–248. DOI:10.1117/12.297847
R. Navarro, Private communication. 2nd AegianSummer School in Visual Optics, Santorini: Greece, 2003.
L. Diaz Santana Haro and J. C. Dainty, “Single-pass measurements of the wave-front aberrations of the human eye by use of retinal lipofuscin autofluorescence”, Optics Letters, vol. 24, no. 1, p. 61, Jan. 1999. DOI:10.1364/OL.24.000061
ZEMAX. Optical Design Program. User's Guide. Version 10.0. Focus Software, Inc., Tucson, AZ. 2001, pp. 472
Methods for reporting optical aberrations of eyes. American National Standard for Ophthalmics: ANSI Z80.28-2004. American National Standards Institute, Inc. 14.05.2004, pp.36
