СВЧ методы измерения параметров диэлектрических материалов на основе составного диэлектрического резонатора

##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##

PDF
Опубликован: Dec 29, 2014
DOI: https://doi.org/10.20535/2312-1807.2014.19.6.112903
Ключевые слова:
диэлектрические материалы, фактор потерь, тангенс угла потерь, диэлектрическая проницаемость, СВЧ параметры

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

Yurii Viktorovych Didenko
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
Vitalii Ivanovych Molchanov
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
V. M. Pashkov
Dmytro Dmytrovych Tatarchuk
Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут»
D. A. Shmyhin

Аннотация

В статье проанализированы СВЧ методы измерения параметров материалов, показаны их достоинства и недостатки, обсуждены критерии выбора конкретного метода измерений. Авторами предложена модификация метода составного диэлектрического резонатора. Предложенный метод обладает высокой чувствительностью при измерении диэлектрической проницаемости и потерь.

Библ. 4, рис. 6., табл. 1.

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Как цитировать
Didenko, Y. V., Molchanov, V. I., Pashkov, V. M., Tatarchuk, D. D., & Shmyhin, D. A. (2014). СВЧ методы измерения параметров диэлектрических материалов на основе составного диэлектрического резонатора. Электроника и Связь, 19(6), 14–20. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2014.19.6.112903
Выпуск
Том 19 № 6 (2014)
Раздел
Твердотельная электроника
Лицензия Creative Commons

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.

Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующими условиями:

  1. Авторы сохраняют за собой права на авторство своей работы и предоставляют журналу право первой публикации этой работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим лицам свободно распространять опубликованную работу с обязательной ссылокой на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.
  2. Авторы сохраняют право заключать отдельные договора на неэксклюзивное распространение работы в том виде, в котором она была опубликована этим журналом (например, размещать работу в электронном архиве учреждения или публиковать в составе монографии), с условием сохраниения ссылки на оригинальную публикацию в этом журнале.
  3. Политика журнала разрешает и поощряет размещение авторами в сети Интернет (например в институтском хранилище или на персональном сайте) рукописи работы как до ее подачи в редакцию, так и во время ее редакционной обработки, так как это способствует продуктивной научной дискуссии и положительно сказывается на оперативности и динамике цитирования статьи (см. The Effect of Open Access).

Библиографические ссылки

Poplavko Y. M., Molchanov V. I., Kazmirenko V. A. (2011), “Microwave Dielectric Spectroskopy”. Kiev, NTUU «KPI». P. 304 p. (Ukr)

Harvey A. F. (1965), “Microwave Engineering”. Moskva, Sovetskoe Radio. Vol. 1, P. 784. (Rus)

Bovtun V., Pashkov V., Kempa M., Kamba S., Eremenko A., Molchanov V. [et al.] (2011), “An elec-trode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films”. Journal of Applied Physics. 024106, pp. 109–115.

Pashkov V.M., Bovtun V.P., Prokopenko Y.V., Kempa M., Molchanov V.I., Eremenko A.V., Poplavko Y.M. (2009), “The Method of Measuring the Characteristics of the Microwave Dielectric Films”. // Mi-crowave & Telecommunication Technology (CriMiCo-2009) : Proc. of 19th Int. Sci. Conf. (Sept. 14–18, 2009, Sevastopol, Crimea, Ukraine), pp. 769–770. (Rus)