Влияние условий травления на формирование регулярной пористой структуры полупроводников А3В5

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

Е.А. Сычикова
В.В. Кидалов
Г.А. Сукач
А.И. Кирилаш
А.А. Коноваленко

Аннотация

В данной работе установлены основные факторы, влияющие на образование пористой структуры полупроводников А3В5, что является важным с точки зрения управления параметрами пористых структур. Морфология полученных пористых структур исследовалась с помощью растрового электронного микроскопа JSM-6490. Химический состав был изучен при помощи метода EDAX, дифрактометрические исследования проводились с помощью дифрактометра ДРОН-ЗМ

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Как цитировать
Сычикова, Е. ., Кидалов, В. ., Сукач, Г. ., Кирилаш, А. ., & Коноваленко, А. . (2011). Влияние условий травления на формирование регулярной пористой структуры полупроводников А3В5. Электроника и Связь, 16(2), 42–45. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2011.16.2.268400
Раздел
Твердотельная электроника

Библиографические ссылки

L. Santinacci and T. Djenizian, “Electrochemical pore formation onto semiconductor surfaces”, Comptes Rendus Chimie, vol. 11, no. 9, pp. 964–983, Sep. 2008. DOI:10.1016/j.crci.2008.06.004

H. Hasegawa and T. Sato, “Electrochemical processes for formation, processing and gate control of III–V semiconductor nanostructures”, Electrochimica Acta, vol. 50, no. 15, pp. 3015–3027, May 2005. DOI:10.1016/j.electacta.2004.11.066

I. Šimkiene, A. Kindurys, M. Treideris, and J. Sabataityte, “Formation of Porous n-A B Compounds”, Acta Physica Polonica A, vol. 113, no. 3, pp. 1085–1090, Mar. 2008. DOI: 10.12693/APhysPolA.113.1085