Современные методы исследования структурно-информационных свойств естественных систем

##plugins.themes.bootstrap3.article.sidebar##

pdf
Опубликован: May 31, 2010
DOI: https://doi.org/10.20535/2312-1807.2010.15.1.313010
Ключевые слова:
фрактальная размерность, фрактал, показатель Херста, структурно-морфологический анализ

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

А.Б. Завгородний

Аннотация

Предложено приложение метода количественной оценки степени упорядоченности наноразмерных структур на основе параметра фрактальной размерности. Освещена возможность применения методов и методик анализа структурно-морфологических свойств объектов на основе параметра фрактальной размерности в изображениях, полученных методом газоразрядной визуализации

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Как цитировать
Завгородний, А. . (2010). Современные методы исследования структурно-информационных свойств естественных систем. Электроника и Связь, 15(1), 60–65. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2010.15.1.313010
Выпуск
Том 15 № 1 (2010)
Раздел
информационные системы и технологии
Лицензия Creative Commons

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.

Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующими условиями:

  1. Авторы сохраняют за собой права на авторство своей работы и предоставляют журналу право первой публикации этой работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим лицам свободно распространять опубликованную работу с обязательной ссылокой на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.
  2. Авторы сохраняют право заключать отдельные договора на неэксклюзивное распространение работы в том виде, в котором она была опубликована этим журналом (например, размещать работу в электронном архиве учреждения или публиковать в составе монографии), с условием сохраниения ссылки на оригинальную публикацию в этом журнале.
  3. Политика журнала разрешает и поощряет размещение авторами в сети Интернет (например в институтском хранилище или на персональном сайте) рукописи работы как до ее подачи в редакцию, так и во время ее редакционной обработки, так как это способствует продуктивной научной дискуссии и положительно сказывается на оперативности и динамике цитирования статьи (см. The Effect of Open Access).

Библиографические ссылки

S. Zenin, Structural state of water as a basis for managing the behavior and safety of living systems: dis. doctor of biological sciences, 1999, p. 207

E. Davenas, “Human basophil degranulation triggered by very dilute antiserum against IgE”, Nature, vol. 333, no. 6176, pp. 816–818, Jun. 1988. DOI:10.1038/333816a0

M. Lebedev, “Mechanism of adsorption of H2S molecules on the GaAs(100) surface: quantum-chemical analysis from first principles”, Solid State Physics, vol. 48, no. 1, pp. 152–158, 2006.

S. Chesters, H. Wang, and G. Kasper, “A fractalbased method for describing surface roughnessand texture”, Proc. of Institute of EnvironmentalScience, p. 316, 1990.

N. Gerasimenko and S. Aprelov, “Fractal methods for analyzing the degree of ordering of nanostructures”, Russian nanotechnologies, vol. 2, no. 1–2, pp. 136–139, 2007.

J. Li, L. Lu, Y. Su, and M. O. Lai, “Fractal-based description for the three-dimensional surface of materials”, Journal of Applied Physics, vol. 86, no. 5, pp. 2526–2532, Sep. 1999. DOI:10.1063/1.371087

P. I. Oden, A. Majumdar, B. Bhushan, A. Padmanabhan, and J. J. Graham, “AFM Imaging, Roughness Analysis and Contact Mechanics of Magnetic Tape and Head Surfaces”, Journal of Tribology, vol. 114, no. 4, pp. 666–674, Oct. 1992. DOI:10.1115/1.2920934

A. Hedman, Surface Characterization and Applications to Atomic Force Microscopy: Graduate diploma thesis, Luleå University of Technology, 1994, p. 102.

J. M. Gómez-Rodríguez, A. M. Baró, and R. C. Salvarezza, “Fractal characterization of gold deposits by scanning tunneling microscopy”, Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena, vol. 9, no. 2, pp. 495–499, Mar. 1991. DOI:10.1116/1.585554

S. K. Sinha, “X-ray diffuse scattering as a probe for thin film and interface structure”, Journal de Physique III, vol. 4, no. 9, pp. 1543–1557, Sep. 1994. DOI:10.1051/jp3:1994221

J. Arnault, A. Knoll, E. Smigiel, and A. Cornet, “Roughness fractal approach of oxidised surfaces by AFM and diffuse X-ray reflectometry measurements”, Applied Surface Science, vol. 171, no. 3-4, pp. 189–196, Feb. 2001. DOI:10.1016/S0169-4332(00)00550-X

T. Roch, “X-ray studies on self-organized wires in SiGe/Si multilayers”, Journal of Physics D: Applied Physics, vol. 34, no. 10A, pp. A6-A10, May 2001. DOI:10.1088/0022-3727/34/10A/302

N. Gerasimenko, M. Pavlyuchenko, and K. Djamanbalin, “Fractal analysis of the surface of CoSi2 obtained by ion synthesis”, News of Universities: Electronics, no. 6, pp. 75–79, 2002.

E. Feder, Fractals, Moscow: Mir, 1991, p. 254.

Y. Klikushin, “Fractal scale for measuring the shape of probability distributions”, Journal of Radio Electronics, no. 3, pp. 15–18, 2000.