Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

Юрій Вікторович Діденко

Аннотация

В статье проанализирована природа диэлектрических потерь в кремнии и арсениде галлия. Приведены экспериментальные частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ. Также показаны результаты математического моделирования.

Библ. 3, рис. 3.

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Как цитировать
Діденко, Ю. В. (2015). Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ. Электроника и Связь, 20(3), 9. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2015.20.3.38285
Раздел
Твердотельная электроника

Библиографические ссылки

Poplavko Y. M., Molchanov V. I., Kazmirenko V. A. (2011), “Microwave Dielectric Spectroskopy”. Kiev, NTUU «KPI». P. 304. (Ukr)

Poplavko Y. M., Yakimenko Y. I. (2013), “Piezoelectrics”. Kiev, NTUU «KPI». P. 328. (Ukr)

Didenko Y. V., Poplavko Y. M., Tatarchuk D. D. (2014), “Temperature Dependences of Losses in High Frequency Dielectrics”. Electronics and Communications. Vol. 19, no. 4(81), pp. 28–35.