Частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ
##plugins.themes.bootstrap3.article.main##
Аннотация
В статье проанализирована природа диэлектрических потерь в кремнии и арсениде галлия. Приведены экспериментальные частотные и температурные зависимости диэлектрических потерь в полупроводниках на СВЧ. Также показаны результаты математического моделирования.
Библ. 3, рис. 3.
##plugins.themes.bootstrap3.article.details##
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.
Авторы, публикующиеся в данном журнале, соглашаются со следующими условиями:- Авторы сохраняют за собой права на авторство своей работы и предоставляют журналу право первой публикации этой работы на условиях лицензии Creative Commons Attribution License, которая позволяет другим лицам свободно распространять опубликованную работу с обязательной ссылокой на авторов оригинальной работы и оригинальную публикацию в этом журнале.
- Авторы сохраняют право заключать отдельные договора на неэксклюзивное распространение работы в том виде, в котором она была опубликована этим журналом (например, размещать работу в электронном архиве учреждения или публиковать в составе монографии), с условием сохраниения ссылки на оригинальную публикацию в этом журнале.
- Политика журнала разрешает и поощряет размещение авторами в сети Интернет (например в институтском хранилище или на персональном сайте) рукописи работы как до ее подачи в редакцию, так и во время ее редакционной обработки, так как это способствует продуктивной научной дискуссии и положительно сказывается на оперативности и динамике цитирования статьи (см. The Effect of Open Access).
Библиографические ссылки
Poplavko Y. M., Molchanov V. I., Kazmirenko V. A. (2011), “Microwave Dielectric Spectroskopy”. Kiev, NTUU «KPI». P. 304. (Ukr)
Poplavko Y. M., Yakimenko Y. I. (2013), “Piezoelectrics”. Kiev, NTUU «KPI». P. 328. (Ukr)
Didenko Y. V., Poplavko Y. M., Tatarchuk D. D. (2014), “Temperature Dependences of Losses in High Frequency Dielectrics”. Electronics and Communications. Vol. 19, no. 4(81), pp. 28–35.