НВЧ методи вимірювання параметрів діелектричних матеріалів на основі складеного діелектричного резонатора
Основний зміст сторінки статті
Анотація
У статті проаналізовано НВЧ методи вимірювання параметрів матеріалів, показано їх переваги й недоліки, проаналізовано критерії вибору конкретного методу вимірювань. Авторами запропоновано модифікацію методу складеного діелектричного резонатора. Запропонований метод має високу чутливість при вимірюванні діелектричної проникності та втрат.
Бібл. 4, рис. 6., табл. 1.
Блок інформації про статтю
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
Посилання
Poplavko Y. M., Molchanov V. I., Kazmirenko V. A. (2011), “Microwave Dielectric Spectroskopy”. Kiev, NTUU «KPI». P. 304 p. (Ukr)
Harvey A. F. (1965), “Microwave Engineering”. Moskva, Sovetskoe Radio. Vol. 1, P. 784. (Rus)
Bovtun V., Pashkov V., Kempa M., Kamba S., Eremenko A., Molchanov V. [et al.] (2011), “An elec-trode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films”. Journal of Applied Physics. 024106, pp. 109–115.
Pashkov V.M., Bovtun V.P., Prokopenko Y.V., Kempa M., Molchanov V.I., Eremenko A.V., Poplavko Y.M. (2009), “The Method of Measuring the Characteristics of the Microwave Dielectric Films”. // Mi-crowave & Telecommunication Technology (CriMiCo-2009) : Proc. of 19th Int. Sci. Conf. (Sept. 14–18, 2009, Sevastopol, Crimea, Ukraine), pp. 769–770. (Rus)
