Вплив умов травлення на формування регулярної пористої структури напівпровідників А3В5

Основний зміст сторінки статті

Є.А. Сичикова
В.В. Кидалов
Г.А. Сукач
А.І. Кирилаш
А.А. Коноваленко

Анотація

У цій роботі встановлені основні фактори, що впливають на утворення пористої структури напівпровідників А3В5, що є важливим з точки зору керування параметрами пористих структур. Морфологія отриманих пористих структур досліджувалась за допомогою растрового електронного мікроскопа JSM-6490. Хімічний склад був вивчений за допомогою методу EDAX, дифрактометричні дослідження проводились за допомогою дифрактометра ДРОН-ЗМ

Блок інформації про статтю

Як цитувати
Сичикова, Є. ., Кидалов, В., Сукач, Г. ., Кирилаш, А. ., & Коноваленко, А. . (2011). Вплив умов травлення на формування регулярної пористої структури напівпровідників А3В5. Електроніка та Зв’язок, 16(2), 42–45. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2011.16.2.268400
Розділ
Твердотільна електроніка

Посилання

L. Santinacci and T. Djenizian, “Electrochemical pore formation onto semiconductor surfaces”, Comptes Rendus Chimie, vol. 11, no. 9, pp. 964–983, Sep. 2008. DOI:10.1016/j.crci.2008.06.004

H. Hasegawa and T. Sato, “Electrochemical processes for formation, processing and gate control of III–V semiconductor nanostructures”, Electrochimica Acta, vol. 50, no. 15, pp. 3015–3027, May 2005. DOI:10.1016/j.electacta.2004.11.066

I. Šimkiene, A. Kindurys, M. Treideris, and J. Sabataityte, “Formation of Porous n-A B Compounds”, Acta Physica Polonica A, vol. 113, no. 3, pp. 1085–1090, Mar. 2008. DOI: 10.12693/APhysPolA.113.1085