Аналіз Vth стрибкового методу енергоспоживання

Основний зміст сторінки статті

Х.В. Мелікян
В.Ш. Мелікян
Х.П. Петросян

Анотація

У статті запропоновано енергетичну модель для VTH стрибкової схеми, отримані рівняння до розрахунку зменшення енергії. На основі запропонованої моделі формально сформульовано завдання VTH стрибкової схеми, для вирішення якої використано евристичний алгоритм. Показано, що з використанням цього методу можна зберегти приблизно 30% статичної енергії зі збільшенням площі схеми лише на 3%

Блок інформації про статтю

Як цитувати
Мелікян, Х. ., Мелікян, В. ., & Петросян, Х. . (2010). Аналіз Vth стрибкового методу енергоспоживання. Електроніка та Зв’язок, 15(4), 88–90. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2010.15.4.301282
Розділ
Електронні системи

Посилання

C. Seiculescu, S. Murali, L. Benini, and G. De Micheli, “NoC topology synthesis for supporting shutdown of voltage islands in SoCs”, in Proceedings of the 46th Annual Design Automation Conference, San Francisco California, 2009, pp. 822–825. DOI:10.1145/1629911.1630121

V. Veetil, D. Sylvester, D. Blaauw, S. Shah, and S. Rochel, “Efficient smart sampling based full-chip leakage analysis for intra-die variation considering state dependence”, in Proceedings of the 46th Annual Design Automation Conference, San Francisco California, 2009, pp. 154–159. DOI:10.1145/1629911.1629956

H. Falk, “Prolog to: Leakage current mechanisms and leakage reduction techniques in deep-submicrometer cmos circuits”, Proceedings of the IEEE, vol. 91, no. 2, pp. 303–304, Feb. 2003. DOI:10.1109/JPROC.2003.808154

A. Sathanur, A. Pullini, L. Benini, G. De Micheli, and E. Macii, “Physically clustered forward body biasing for variability compensation in nanometer CMOS design”, in 2009 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, Nice, 2009, pp. 154–159. DOI:10.1109/DATE.2009.5090650

S. Hong, S. Yoo, B. Bin, K.-M. Choi, S.-K. Eo, and T. Kim, “Dynamic Voltage Scaling of Supply and Body Bias Exploiting Software Runtime Distribution”, in 2008 Design, Automation and Test in Europe, Munich, Germany, 2008, pp. 242–247. DOI:10.1109/DATE.2008.4484693