Сучасні методи дослідження структурно-інформаційних властивостей природних систем
Основний зміст сторінки статті
Анотація
Запропоновано додаток методу кількісної оцінки ступеня впорядкованості нанорозмірних структур на основі параметра фрактальної розмірності Висвітлено можливість застосування методів та методик аналізу структурно-морфологічних властивостей об'єктів на основі параметра фрактальної розмірності у зображеннях, отриманих методом газорозрядної візуалізації.
Блок інформації про статтю
Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:- Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
- Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
Посилання
S. Zenin, Structural state of water as a basis for managing the behavior and safety of living systems: dis. doctor of biological sciences, 1999, p. 207
E. Davenas, “Human basophil degranulation triggered by very dilute antiserum against IgE”, Nature, vol. 333, no. 6176, pp. 816–818, Jun. 1988. DOI:10.1038/333816a0
M. Lebedev, “Mechanism of adsorption of H2S molecules on the GaAs(100) surface: quantum-chemical analysis from first principles”, Solid State Physics, vol. 48, no. 1, pp. 152–158, 2006.
S. Chesters, H. Wang, and G. Kasper, “A fractalbased method for describing surface roughnessand texture”, Proc. of Institute of EnvironmentalScience, p. 316, 1990.
N. Gerasimenko and S. Aprelov, “Fractal methods for analyzing the degree of ordering of nanostructures”, Russian nanotechnologies, vol. 2, no. 1–2, pp. 136–139, 2007.
J. Li, L. Lu, Y. Su, and M. O. Lai, “Fractal-based description for the three-dimensional surface of materials”, Journal of Applied Physics, vol. 86, no. 5, pp. 2526–2532, Sep. 1999. DOI:10.1063/1.371087
P. I. Oden, A. Majumdar, B. Bhushan, A. Padmanabhan, and J. J. Graham, “AFM Imaging, Roughness Analysis and Contact Mechanics of Magnetic Tape and Head Surfaces”, Journal of Tribology, vol. 114, no. 4, pp. 666–674, Oct. 1992. DOI:10.1115/1.2920934
A. Hedman, Surface Characterization and Applications to Atomic Force Microscopy: Graduate diploma thesis, Luleå University of Technology, 1994, p. 102.
J. M. Gómez-Rodríguez, A. M. Baró, and R. C. Salvarezza, “Fractal characterization of gold deposits by scanning tunneling microscopy”, Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena, vol. 9, no. 2, pp. 495–499, Mar. 1991. DOI:10.1116/1.585554
S. K. Sinha, “X-ray diffuse scattering as a probe for thin film and interface structure”, Journal de Physique III, vol. 4, no. 9, pp. 1543–1557, Sep. 1994. DOI:10.1051/jp3:1994221
J. Arnault, A. Knoll, E. Smigiel, and A. Cornet, “Roughness fractal approach of oxidised surfaces by AFM and diffuse X-ray reflectometry measurements”, Applied Surface Science, vol. 171, no. 3-4, pp. 189–196, Feb. 2001. DOI:10.1016/S0169-4332(00)00550-X
T. Roch, “X-ray studies on self-organized wires in SiGe/Si multilayers”, Journal of Physics D: Applied Physics, vol. 34, no. 10A, pp. A6-A10, May 2001. DOI:10.1088/0022-3727/34/10A/302
N. Gerasimenko, M. Pavlyuchenko, and K. Djamanbalin, “Fractal analysis of the surface of CoSi2 obtained by ion synthesis”, News of Universities: Electronics, no. 6, pp. 75–79, 2002.
E. Feder, Fractals, Moscow: Mir, 1991, p. 254.
Y. Klikushin, “Fractal scale for measuring the shape of probability distributions”, Journal of Radio Electronics, no. 3, pp. 15–18, 2000.
