Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора

Бічна панель сторінки статті

PDF
Опубліковано: лип 23, 2015
DOI: https://doi.org/10.20535/2312-1807.2015.20.1.38354
Ключові слова:
діелектрична проникність, тангенс кута діелектричних втрат, діелектричний резонатор, НВЧ параметри, чутливість методу

Основний зміст сторінки статті

Віталій Іванович Молчанов
Національний технічний університет України "КПІ"
Валерій Маркович Пашков
Національний технічний університет України "КПІ"
Дмитро Дмитрович Татарчук
Національний технічний університет України "КПІ"
https://orcid.org/0000-0003-1171-6701
Антон Сергійович Франчук
Національний технічний університет України "КПІ"
https://orcid.org/0000-0002-8350-564X

Анотація

У статті розглянуто метод тонкого діелектричного резонатора для вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів, його переваги і недоліки. Показано, що запропонований метод має високу чутливість і може бути використаний для вимірювання параметрів тонких діелектричних плівок, нанесених на підкладку. Бібл. 7, рис. 4.

Блок інформації про статтю

Як цитувати
Молчанов, В. І., Пашков, В. М., Татарчук, Д. Д., & Франчук, А. С. (2015). Вимірювання НВЧ параметрів діелектричних матеріалів методом тонкого діелектричного резонатора. Електроніка та Зв’язок, 20(1), 23. https://doi.org/10.20535/2312-1807.2015.20.1.38354
Номер
Том 20 № 1 (2015)
Розділ
Твердотільна електроніка
Creative Commons License

Ця робота ліцензується відповідно до Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Автори, які публікуються у цьому журналі, погоджуються з наступними умовами:

  1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.
  2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.
  3. Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
Біографія автора

Дмитро Дмитрович Татарчук, Національний технічний університет України "КПІ"

Кафедра мікроелектроніки, доцент

Посилання

Y.V. Didenko, V.I. Molchanov, V.M. Pashkov, D.D. Tatarchuk, D.A. Shmygin (2014), Microwave methods of measuring the parameters of dielectric materials on the basis of the composite dielectric resonator. Electronics and Communications. Vol. 19. No. 6 (83). Pp. 14-20. (Rus).

Tatarchuk D.D. (2002), Measuring parameters of microwave dielectric materials by the method of EType dielectric resonator. Electronics and Communications. No.14. Pp. 22-23. (Ukr).

V. Pashkov, V. Bovtun, Y. Prokopenko, M. Kempa, V. Molchanov, et al. (2009), Measurement of dielectric films microwave parameters. Microwave & Telecommunication Technology (CriMiCo’2009): Proc. of 19th Int. Crimean Conf. (Sept. 2009, Sevastopol, Ukraine). Sevastopol, Pp. 769–770.

V. Bovtun, V. Pashkov, M. Kempa, S. Kamba, et al. (2011), An electrode-free method of characterizing the microwave dielectric properties of high-permittivity thin films. J. Appl. Phys. Vol. 109. 024106. Pp. 1–6.

V. Bovtun, V. Pashkov, M. Kempa, et al. (2011), Thin dielectric resonatots for microwave characterization of films and substrates. Microwave & Telecom Technology (CriMiCo’2011): Proc. of 21st Int. Crimean Conf. (Sept. 2011, Sevastopol, Ukraine). Sevastopol, Pp. 620–621.

Tatarchuk D.D. (2000), The quality factor of the rectangular combined resonators with E-type oscillations. Sciences. news NTU "KPI". No 2. Pp. 9-12. (Ukr)

V.I. Molchanov, D.D. Tatarchuk. (2008), Inhomogeneities in the microwave dielectric structures. Electronics and Communications. No. 6 (47). Pp. 10-14. (Rus)